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直流3A半導體分立器件測試儀
通常分立器件特性參數(shù)測試需要幾臺儀器完成，如數(shù)字萬用表、 電壓源、電流源等。然而由數(shù)臺儀器組成的系統(tǒng)需要分別進行編程、同步、連接、測量和分析，過程既復雜又耗時，又占用過多測試臺的空間；實施半導體分立器件特性參數(shù)分析的最佳工具之一是數(shù)字源表（SMU）。數(shù)字源表面議2025-02-27 -
30A+1us脈沖源
30A+1us脈沖源的簡述: 作用: 主要應(yīng)用于VCSEL激光器、大功率LED的測試 功能： 實現(xiàn)窄脈沖加電的LIV測試 特點： （1）超窄脈沖大電流電流加電，能夠滿足VCSEL的晶圓和芯片的測試需要； （2）支持脈沖光功率和器件脈沖電壓采樣功能。是LIV測試的系統(tǒng)解決方案； （3面議2025-02-27 -
半導體IV特性曲線分析儀
半導體IV特性曲線分析儀認準生產(chǎn)廠家武漢普賽斯儀表，詳詢一八一四零六六三四七六；普賽斯五合一高精度數(shù)字源表（SMU）可為高?？蒲泄ぷ髡?、器件測試工程師及功率模塊設(shè)計工程師提供測量所需的工具，接線簡單、方便操作。 利用數(shù)字源表簡化半導體分立器件特性參數(shù)測試面議2025-02-27 -
半導體分立器件測試設(shè)備高電壓+大電流
實施半導體分立器件特性參數(shù)分析的最佳工具之一是數(shù)字源表（SMU）。數(shù)字源表可作為獨立的恒壓源或恒流源、伏特計、安培計和歐姆表，還可用作精密電子負載，其高性能架構(gòu)還允許將其用作脈沖發(fā)生器、波形發(fā)生器和自動電流-電壓(I-V)特性分析系統(tǒng)，支持四象限工作。 利用數(shù)面議2025-02-27 -
場效應(yīng)MOS管特性曲線測試國產(chǎn)源表
使用普賽斯S系列高精度數(shù)字源表、P系列高精度臺式脈沖源表對MOSFET常見參數(shù)進行測試。 輸入/輸出特性測試 針對1A以下的MOSFET器件，推薦2臺S系 列源表搭建測試方案，Z大電壓300V，Z大電流1A, 最小電流100pA，可以滿足小功率MOSFET測試的需求。 針對Z大電流為面議2025-02-27 -
三極管反向擊穿電壓測試SMU數(shù)字源表
三極管是半導體基本元器件之一，設(shè)計電路中常常會關(guān)注的參數(shù)有電流放大系數(shù)β、極間反向電流ICBO、ICEO、集電極最大允許電流ICM、反向擊穿電壓VEBO、VCBO、VCEO以及三極管的輸入輸出特性曲線等參數(shù)。 根據(jù)材料以及用途不同，三極管器件的電壓、電流技術(shù)參數(shù)也不同，針對1A以面議2025-02-27 -
二極管反向漏電流測試國產(chǎn)源表
普賽斯二極管反向漏電流測試國產(chǎn)源表 二極管是一種使用半導體材料制作而成的單向?qū)?電性元器件，產(chǎn)品結(jié)構(gòu)一般為單個PN結(jié)結(jié)構(gòu)，只允許電流從單一方向流過。發(fā)展至今，已陸續(xù)發(fā)展出整流二 極管、肖特基二極管、快恢復二極管、PIN二極管、光電 二極管等，具有安全可靠等面議2025-02-27 -
憶阻器IV測試脈沖恒壓源CP系列
CP系列脈沖恒壓源是武漢普賽斯儀表推出的窄脈寬、高精度、寬量程插卡式脈沖恒壓源。設(shè)備支持窄脈沖電壓輸出，并同步完成輸出電壓及電流測量；支持多設(shè)備觸發(fā)實現(xiàn)器件的脈沖IV掃描等；支持輸出脈沖時序（如延遲、脈寬、周期等參數(shù)變量等）調(diào)節(jié)，可輸出復雜曲線。主要特點有：面議2025-02-27 -
PMST-3500V大功率激光器LIV測試及老化系統(tǒng)
普賽斯PMST-3500V大功率激光器LIV測試及老化系統(tǒng)是專為解決千瓦級大功率半導體激光器芯片及泵浦激光器模塊需要使用窄脈沖大電流測試和老化、芯片發(fā)熱嚴重等問題而創(chuàng)新開發(fā)推出的一套通用性好、大功率、循環(huán)水冷的老化測試系統(tǒng)。產(chǎn)品具有大電流窄脈沖恒流特性好、電流穩(wěn)定、面議2025-02-27 -
CTMS-1000A霍爾電流傳感器測直流電流平臺
CTMS-1000A霍爾電流傳感器測直流電流平臺集多種測量和分析功能一體，可精準測量各種電流傳感器（霍爾電流傳感器、羅氏線圈、皮爾森線圈等）的靜態(tài)與動態(tài)參數(shù)，單臺大電流源電流可高達1000A。該系統(tǒng)可測量不同電流傳感器的靜態(tài)與動態(tài)參數(shù)，具有大電流特性、極快的達到50A/us面議2025-02-27 -
射頻器件頻率特性測試SMU源表
GaNHEMT器件的評估一般包含直流特性(直流l-V測試)、頻率特性(小信號S參數(shù)測試)、功率特性(Load-Pull測試)。 頻率特性測試 射頻器件的頻率參數(shù)測試包含小信號S參數(shù)、互調(diào)(IMD)、噪聲系數(shù)和雜散等特性的測量。其中,S參數(shù)測試描述了RF器件在不同頻率下和對于信號的不同面議2025-02-27 -
16路激光器老化測試系統(tǒng)
16路激光器老化測試系統(tǒng)特點 單抽屜最多支持16路8抽屜； 各通道互相獨立； 電流回讀，同步自動測量電壓、光功率等數(shù)據(jù)； 加熱膜加熱，溫控范圍：室溫～125℃； 電源抗浪涌設(shè)計； 收光裝置水冷； 絕對精度±1℃，不同DUT溫度均勻性±2℃； 老化數(shù)據(jù)自動記面議2025-02-27 -
數(shù)字源表如何選型
目前市場上數(shù)字源表琳瑯滿目，如何選擇適合自己、或性價比高的源表成為眾多買家比較頭疼的問題，其實只要了解到以下參數(shù)，就不難選型了： 1、源的輸出范圍 2、通道數(shù) 3、是否支持脈沖輸出 4、測量的精度 5、測量的速度（采樣率）等 確定了以上參數(shù)后，就面議2025-02-27 -
數(shù)字源表測試柔性電子材料
柔性電子又稱為塑料電子、印刷電子、有機電子、聚合體電子等，將有機或者無機材料電子器件制作在柔性、可延性塑料或薄金屬基板上的新興電子技術(shù)。由于FPC柔性線路板及電子系統(tǒng)可實現(xiàn)彎曲、折疊、延展，且功能不會因此而受到影響，其獨特的柔性和延展性使得柔性電子在信息、面議2025-02-27 -
數(shù)字源表測LDO芯片電性能
LDO，全稱為“Low Dropout Regulator”，是一種低壓差線性穩(wěn)壓元器件。其工作原理為，使用在其飽和區(qū)域內(nèi)運行的晶體管或場效應(yīng)管（FET），從應(yīng)用的輸入電壓中減去超額的電壓，產(chǎn)生經(jīng)過調(diào)節(jié)的輸出電壓。相比于傳統(tǒng)的DC-DC變換器，LDO具有成本低，噪音低，靜態(tài)電流小的特點，需面議2025-02-27 -
數(shù)字源表測電阻率四探針法
電阻率是用來表示各種物質(zhì)電阻特性的物理量，某種材料制成的長為1米，橫截面積為1平方米的導體的電阻，在數(shù)值上等于這種材料的電阻率。它反映物質(zhì)對電流阻礙作用的屬性，它與物質(zhì)的種類有關(guān)，還受溫度、濕度等因素的影響。在實際中我們可能需要測試一些薄而平的材料的電阻率面議2025-02-27 -
高電流脈沖電源測試電流傳感器響應(yīng)時間
高電流脈沖電源測試電流傳感器響應(yīng)時間認準生產(chǎn)廠家武漢普賽斯儀表，詳詢一八一四零六六三四七六 ；高電流脈沖電源為脈沖恒流源，具有輸出電流大（1000A）、脈沖邊沿陡（10uS）、支持兩路脈沖電壓測量（峰值采樣）、支持輸出極性切換等特點。 設(shè)備可廣泛應(yīng)用于肖特面議2025-02-27 -
A400型數(shù)據(jù)采集卡
A400數(shù)據(jù)采集卡，是一款普賽斯自主設(shè)計開發(fā)的插卡式，支持可變速率采樣和大容量數(shù)據(jù)存儲的高精度數(shù)據(jù)采集卡。 采集卡使用高性能ADC芯片，分辨率可達16bits，最高支持2MS/s采樣率。單采集卡支持4通道，且通道間隔離。采集卡可應(yīng)用于我司3插卡或10插卡主機上，單主機最高支面議2025-02-27 -
大功率IGBT靜態(tài)參數(shù)測試儀
大功率IGBT靜態(tài)參數(shù)測試儀集多種測量和分析功能一體，可精準測量功率器件（MOSFET、BJT、IGBT等）的靜態(tài)參數(shù)，電壓可高達3KV,電流可高達4KA。該系統(tǒng)可測量不同封裝類型的功率器件的靜態(tài)參數(shù)，具有高電壓和大電流特性，uΩ級電阻，pA級電流精準測量等特點。支持高壓模式下測量面議2025-02-27 -
替代2657高壓程控電源
E系列高壓程控電源 特點和優(yōu)勢： 10ms級的上升沿和下降沿； 單臺最大3000V的輸出； 同步電流測量； 替代2657高壓程控電源具有輸出及測量電壓高（3000V）、能輸出及測量微弱電流信號（1nA）的特點。設(shè)備工作在第一象限，輸出及測量電壓0~3000V，輸出及測量電面議2025-02-27
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