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全武漢行業(yè)市場信息
共找到 1252 條信息-
基于數(shù)字源表的高校微電子教學(xué)實驗平臺
基于數(shù)字源表的高校微電子教學(xué)實驗平臺特色: 1、外觀簡潔緊湊集成度高 2、通用開放型儀表平臺 以數(shù)字源表(SMU)為核心,覆蓋所有材料器件的直流特性測試;示波器、信號源、數(shù)字電橋等通用儀表完成動態(tài)參數(shù)測試實驗。 3、模塊化設(shè)計實驗夾具盒 4、引入集面議2025-02-27 -
功率mos管電性能分析IV測試大電流源表
P系列功率mos管電性能分析IV測試大電流源表是普賽斯在直流源表的基礎(chǔ)上新打造的一款高精度、大動態(tài)、數(shù)字觸摸源表,匯集電壓、電流輸入輸出及測量等多種功能,Z大脈沖輸出電流達(dá)10A,Z大輸出電壓達(dá)300V,支持四象限工作,因此能廣泛的應(yīng)用于各種電氣特性測試中。P系列源表適面議2025-02-27 -
led漏電流測試高精度源表
LED必須在合適的電流電壓驅(qū)動下才能正常工作。其電壓-電流之間的關(guān)系稱為I-V特性。通過對LED電特性的測試,可以獲得對應(yīng)正向電壓(Vf)、反向電壓(Vr)及漏電流(Ir)等參數(shù),以及相應(yīng)的I-V曲線。常用的測試方法一般為在LED器件的兩端,加電壓測試電流,或者加電流測試電壓面議2025-02-27 -
雙極性電源數(shù)字源表直流3A精密源表
雙極性電源數(shù)字源表直流3A精密源表優(yōu)勢 ? 性能強(qiáng)大-作為電壓源和或電流源,并同步測量電流和或電壓,支持四象限工作??梢韵薅妷夯螂娏鬏敵龃笮?,預(yù)防器件損壞。覆蓋3pA-3A的電流范圍100μV-300V的電壓范圍,全量程測量精度0.03%。 ? 靈活多樣-支持兩線制和四線制測量面議2025-02-27 -
GaN HEMT器件特性測試儀
GaN HEMT器件的評估一般包含直流特性(直流l-V測試)、頻率特性(小信號S參數(shù)測試)、功率特性(Load-Pull測試)。GaN HEMT器件特性測試儀就找普賽斯儀表,詳詢一八一四零六六三四七六; 基于普賽斯S/CS系列源表的直流l-V特性測試系統(tǒng) 基于普賽斯Р系列脈沖源表/CP系列恒壓面議2025-02-27 -
高電壓大電流igbt靜態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)
為應(yīng)對各行各業(yè)對IGBT的測試需求,武漢普賽斯正向設(shè)計、精益打造了一款高精密電壓-電流的IGBT靜態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng),可提供IV、CV、跨導(dǎo)等豐富功能的綜合測試,具有高精度、寬測量范圍、模塊化設(shè)計、輕松升級擴(kuò)展等優(yōu)勢,旨在全面滿足從基礎(chǔ)功率二極管、MOSFET、BJT、IGBT到寬禁面議2025-02-27 -
KV級高壓電源3500V高壓程控電源
E系列KV級高壓電源3500V高壓程控電源特點和優(yōu)勢: 十ms級的上升沿和下降沿; 單臺最大3500V的輸出; 0.1%測試精度; 同步電流或電壓測量; 支持程控恒壓測流,恒流測壓,便于掃描測試; 應(yīng)用領(lǐng)域: 用于IGBT擊穿電壓測試,IGBT動態(tài)測試母線電容充面議2025-02-27 -
PL202型脈沖式直流電源
PL202型脈沖式直流電源特點和優(yōu)勢: 超窄至1us的脈沖; 大到30A的脈沖電流; 最大300A/us上升速度; 兼容CW和QCW模式; 豐富的軟件接口; PL202型脈沖式直流電源應(yīng)用 醫(yī)療、美容激光器,典型波長為808nm等 光纖、固體激光器的泵浦源,典型波長為53面議2025-02-27 -
半導(dǎo)體器件IV+CV測試儀
半導(dǎo)體器件IV+CV測試儀認(rèn)準(zhǔn)普賽斯儀表,普賽斯儀表推出更高精度、更大直流的SXXB系列高精度數(shù)字源表,相比于傳統(tǒng)S系列源表,準(zhǔn)確度提升至±0.03%,直流電流升級至3A,可為半導(dǎo)體行業(yè)提供更加精準(zhǔn)、穩(wěn)定的測試方案?,詳詢一八一四零六六三四七六; S型數(shù)字源表應(yīng)用優(yōu)勢:面議2025-02-27 -
led&二極管反向漏電流測試設(shè)備
led&二極管反向漏電流測試設(shè)備測試項目 集電極-發(fā)射極電壓Vces,集電極-發(fā)射極擊穿電壓V(br)ces、集電極-發(fā)射極飽和電壓Vcesat 集電極截止電流Ices、柵極漏電流Iges 柵極-發(fā)射極電壓Vges、柵極-發(fā)射極閾值電壓Vge(th) 輸入電容、輸出電容、反向傳輸電容 續(xù)流二極管壓降面議2025-02-27 -
二極管&led反向擊穿電壓測試設(shè)備
二極管&led反向擊穿電壓測試設(shè)備具有輸出及測量電壓高(3500V)、能輸出及測量微弱電流信號(1nA)的特點。設(shè)備工作在第一象限,輸出及測量電壓0~3500V,輸出及測量電流0~100mA。支持恒壓恒流工作模式,同時支持豐富的I-V掃描模式。詳詢一八一四零六六三四七六; 二極管&面議2025-02-27 -
硅基and碳化硅特性曲線測試設(shè)備
硅基and碳化硅特性曲線測試設(shè)備優(yōu)勢 高電壓、大電流 具有高電壓測量/輸出能力,電壓高達(dá)3500V(最大可擴(kuò)展至10kV) 具有大電流測量/輸出能力,電流高達(dá)6000A(多模塊并聯(lián)) 高精度測量 nA級漏電流, μΩ級導(dǎo)通電阻 0.1%精度測量 模塊化配置面議2025-02-27 -
大電流脈沖源表100A直流源表
HCP系列大電流脈沖源表100A直流源表具備直流和脈沖輸出能力,最大脈沖輸出電流100A,最大輸出電壓100V,支持四象限工作,輸出及測量精度均可達(dá)0.1%,可廣泛用于功率MOS測試、肖特二極管測試、整流橋堆測試及太陽能電池模組測試等。詳詢一八一四零六六三四七六; 應(yīng)用面議2025-02-27 -
uApA級國產(chǎn)電流源
uApA級國產(chǎn)電流源認(rèn)準(zhǔn)普賽斯儀表,普賽斯儀表推出更高精度、更大直流的SXXB系列高精度數(shù)字源表,相比于傳統(tǒng)S系列源表,準(zhǔn)確度提升至±0.03%,直流電流升級至3A,可為半導(dǎo)體行業(yè)提供更加精準(zhǔn)、穩(wěn)定的測試方案?;詳詢一八一四零六六三四七六; S型數(shù)字源表應(yīng)用優(yōu)勢: 1、面議2025-02-27 -
國產(chǎn)S系列數(shù)字源表有哪些優(yōu)勢
國產(chǎn)S系列數(shù)字源表有哪些優(yōu)勢 ? 性能強(qiáng)大-作為電壓源和或電流源,并同步測量電流和或電壓,支持四象限工作。可以限定電壓或電流輸出大小,預(yù)防器件損壞。覆蓋3pA-3A的電流范圍100μV-300V的電壓范圍,全量程測量精度0.03%。 ? 靈活多樣-支持兩線制和四線制測量,更準(zhǔn)確的面議2025-02-27 -
寬禁帶材料電性能分析數(shù)字源表
寬禁帶材料電性能分析數(shù)字源表認(rèn)準(zhǔn)生產(chǎn)廠家武漢普賽斯儀表,詳詢一八一四零六六三四七六;普賽斯S系列、P系列源表標(biāo)準(zhǔn)的SCPI指令集,Y秀的性價比,良好的售后服務(wù)與技術(shù)支持,普賽斯儀表是手家國產(chǎn)數(shù)字源表生產(chǎn)廠家,產(chǎn)品已經(jīng)歷3年迭代完善,對標(biāo)2400、2450、2611、2601B、2面議2025-02-27 -
寬禁帶器件測試高電壓大電流源
GaN HEMT器件性能的評估,一般包含靜態(tài)參數(shù)測試(I-V測試)、頻率特性(小信號S參數(shù)測試)、功率特性(Load-Pull測試)。靜態(tài)參數(shù),也被稱作直流參數(shù),是用來評估半導(dǎo)體器件性能的基礎(chǔ)測試,也是器件使用的重要依據(jù)。以閾值電壓Vgs(th)為例,其值的大小對研發(fā)人員設(shè)計器面議2025-02-27 -
半導(dǎo)體激光器參數(shù)測試設(shè)備激光器老化測試系統(tǒng)
普賽斯半導(dǎo)體激光器參數(shù)測試設(shè)備激光器老化測試系統(tǒng)是專為解決千瓦級大功率半導(dǎo)體激光器芯片及泵浦激光器模塊需要使用窄脈沖大電流測試和老化、芯片發(fā)熱嚴(yán)重等問題而創(chuàng)新開發(fā)推出的一套通用性好、大功率、循環(huán)水冷的老化測試系統(tǒng)。產(chǎn)品具有大電流窄脈沖恒流特性好、電流穩(wěn)定面議2025-02-27 -
光電器件特性參數(shù)分析數(shù)字源表
光電探測器一般需要先對晶圓進(jìn)行測試,封裝后再對器件進(jìn)行二次測試,完成Z終的特性分析和分揀操作;光電探測器在工作時,需要施加反向偏置電壓來拉開光注入產(chǎn)生的電子空穴對,從而完成光生載流子過程,因此光電探測器通常在反向狀態(tài)工作;測試時比較關(guān)注暗電流、反向擊穿電壓、結(jié)電面議2025-02-27 -
光電二極管性能測試精密源表
光電探測器光電測試 光電探測器一般需要先對晶圓進(jìn)行測試,封裝后再對器件進(jìn)行二次測試,完成Z終的特性分析和分揀操作;光電探測器在工作時,需要施加反向偏置電壓來拉開光注入產(chǎn)生的電子空穴對,從而完成光生載流子過程,因此光電探測器通常在反向狀態(tài)工作;測試時比較關(guān)面議2025-02-27 -
半導(dǎo)體器件測試儀IV曲線儀
半導(dǎo)體器件測試儀IV曲線儀認(rèn)準(zhǔn)普賽斯儀表,詳詢18140663476;普賽斯儀表推出更高精度、更大直流的SXXB系列高精度數(shù)字源表,相比于傳統(tǒng)S系列源表,準(zhǔn)確度提升至±0.03%,直流電流升級至3A,可為半導(dǎo)體行業(yè)提供更加精準(zhǔn)、穩(wěn)定的測試方案? S型數(shù)字源表應(yīng)用優(yōu)勢: 1、多功能面議2025-02-27 -
精密電流源直流源表
普賽斯數(shù)字源表集電壓源、電流源、電壓表、電流表、電子負(fù)載功能于一體,支持四象限工作、微弱電流10pA輸出測量、3500V高壓下nA級測量、1000A脈沖大電流輸出,全系列產(chǎn)品豐富,新推出更高精度、更大直流的SXXB系列高精度數(shù)字源表,相比于傳統(tǒng)S系列源表,準(zhǔn)確度提升至±0.03%面議2025-02-27 -
功率半導(dǎo)體測試平臺功率器件測試設(shè)備
普賽斯功率半導(dǎo)體測試平臺功率器件測試設(shè)備特點和優(yōu)勢: 單臺Z大3500V輸出; 單臺Z大1000A輸出,可并聯(lián)后Z大4000A; 15us的超快電流上升沿; 同步測量; 國標(biāo)全指標(biāo)的自動化測試; 可定制夾具; nA級電流和uΩ級電阻測量; 測試項目 集電極-發(fā)射極電壓Vces,集電面議2025-02-27 -
半導(dǎo)體芯片測試設(shè)備IV曲線掃描儀器
眾所周知,半導(dǎo)體芯片測試設(shè)備IV曲線掃描儀器應(yīng)用的專業(yè)領(lǐng)域十分廣泛,分別有:微電子、集成電路、物理與電子工程、航空航天、材料科學(xué)與工程、材料與能源、電子科學(xué)與工程、光電信息與能源工程等等等... 數(shù)字源表作為電學(xué)測量的常用儀器,在高校和研究所的相關(guān)實驗室內(nèi)幾面議2025-02-27 -
電參數(shù)測量多合一數(shù)字源表
分立器件特性參數(shù)測試是對待測器件(DUT)施加電壓或電流,然后測試其對激勵做出的響應(yīng),通常分立器件特性參數(shù)測試需要幾臺儀器完成,如數(shù)字萬用表、 電壓源、電流源等。然而由數(shù)臺儀器組成的系統(tǒng)需要分別進(jìn)行編程、同步、連接、測量和分析,過程既復(fù)雜又耗時,又占用過多測面議2025-02-27 -
igbt模塊測試設(shè)備功率器件測試儀
普賽斯igbt模塊測試設(shè)備功率器件測試儀,集多種測量和分析功能一體,可以精準(zhǔn)測量不同封裝類型功率器件(如MOSFET、BJT、IGBT以及SiC、GaN第三代半導(dǎo)體等)的靜態(tài)參數(shù),具有高電壓和大電流特性、μΩ級J確測量、nA級電流測量能力等特點。支持高壓模式下測量功率器件結(jié)電容,如面議2025-02-27 -
pA級微電流數(shù)字源表IV測試源表
普賽斯數(shù)字源表集電壓源、電流源、電壓表、電流表、電子負(fù)載功能于一體,支持四象限工作、微弱電流10pA輸出測量、3500V高壓下nA級測量、1000A脈沖大電流輸出,全系列產(chǎn)品豐富,pA級微電流數(shù)字源表IV測試源表認(rèn)準(zhǔn)普賽斯儀表,詳詢一八一四零六六三四七六; 源表特點: 多面議2025-02-27 -
半導(dǎo)體分立器件測試設(shè)備參數(shù)分析源表
半導(dǎo)體分立器件泛指二極管、三極管等具有單一功能的半導(dǎo)體元器件,用于電力電子設(shè)備的整流、穩(wěn)壓、開關(guān)、混頻等電路中,是構(gòu)成電力電子變化裝置的核心器件之一,在消費(fèi)電子、汽車電子、電子儀器儀表、工業(yè)及自動化控制、計算機(jī)及周邊設(shè)備、網(wǎng)絡(luò)通訊等眾多國民經(jīng)濟(jì)領(lǐng)域均有廣面議2025-02-27 -
電流階躍測試電源高電流脈沖源
電流階躍測試電源高電流脈沖源為脈沖恒流源,具有輸出電流大(1000A)、脈沖邊沿陡(15uS)、支持兩路脈沖電壓測量(峰值采樣)、支持輸出極性切換等特點。 設(shè)備可廣泛應(yīng)用于肖特基二極管、整流橋堆、IGBT器件、IGBT半橋模塊、IPM模塊等需要高電流的測試場合,使用該設(shè)面議2025-02-27 -
直流30A大電流數(shù)字源表
HCP系列直流30A大電流數(shù)字源表具備直流和脈沖輸出能力,最大脈沖輸出電流100A,最大輸出電壓100V,支持四象限工作,輸出及測量精度均可達(dá)0.1%,可廣泛用于功率MOS測試、肖特二極管測試、整流橋堆測試及太陽能電池模組測試等。詳詢一八一四零六六三四七六; 應(yīng)用 ?納米材面議2025-02-27 -
SMU電流模塊
SMU電流模塊認(rèn)準(zhǔn)普賽斯儀表,普賽斯儀表推出更高精度、更大直流的SXXB系列高精度數(shù)字源表,相比于傳統(tǒng)S系列源表,準(zhǔn)確度提升至±0.03%,直流電流升級至3A,可為半導(dǎo)體行業(yè)提供更加精準(zhǔn)、穩(wěn)定的測試方案?;詳詢一八一四零六六三四七六; S型數(shù)字源表應(yīng)用優(yōu)勢: 1、多功能面議2025-02-27 -
功率模塊igbt測試設(shè)備igbt測試儀
普賽斯功率模塊igbt測試設(shè)備igbt測試儀,集多種測量和分析功能一體,可以精準(zhǔn)測量不同封裝類型功率器件(如MOSFET、BJT、IGBT以及SiC、GaN第三代半導(dǎo)體等)的靜態(tài)參數(shù),具有高電壓和大電流特性、μΩ級J確測量、nA級電流測量能力等特點。支持高壓模式下測量功率器件結(jié)電容,如面議2025-02-27 -
壓力傳感器測試儀
通常,壓力傳感器Ⅳ特性測試需要幾臺儀器完成,如數(shù)字表、電壓源、電流源等。然而,由數(shù)臺儀器組成的系統(tǒng)需要分別進(jìn)行編程、同步、連接、測量和分析,過程既復(fù)雜又耗時,還占用過多測試臺的空間。而且,使用單一功能的測試儀器和激勵源還存在復(fù)雜的相互間觸發(fā)操作,有更大的面議2025-02-27 -
半導(dǎo)體器件電性能測試儀表高精度數(shù)字源表
半導(dǎo)體器件電性能測試儀表高精度數(shù)字源表找普賽斯儀表,普賽斯數(shù)字源表國產(chǎn)自主研發(fā),對標(biāo)美國2400,B2901;可實現(xiàn)“源”的輸出和“表”的測量同步進(jìn)行,提高測試效率;支持四象限工作,測量范圍廣,電壓高至300V,電流低至10pA;支持USB存儲,一鍵導(dǎo)出數(shù)據(jù)報告;5寸觸摸顯示屏面議2025-02-27 -
數(shù)字源表搭建MOS電容CV特性測試實驗平臺
系統(tǒng)方案 普賽斯半導(dǎo)體功率器件C-V測試系統(tǒng)主要由源表、LCR表、矩陣開關(guān)和上位機(jī)軟件組成。LCR表支持的測量頻率范圍在0.1Hz~1MHz,源表(SMU)負(fù)責(zé)提供可調(diào)直流電壓偏置,通過矩陣開關(guān)加載在待測件上。 進(jìn)行 C-V 測量時,通常在電容兩端施加直流偏壓,同時利用一個交流信面議2025-02-27 -
SMU數(shù)字源表搭建微電子教學(xué)實驗平臺
在半導(dǎo)體材料和器件的研究中,電性能測試是必不可少的環(huán)節(jié)。隨著半導(dǎo)體技術(shù)的提升,微電子工藝逐漸復(fù)雜,如何對微電子材料器件進(jìn)行高效率測試成為業(yè)內(nèi)關(guān)注的重點。普賽斯儀表陸續(xù)推出多型號國產(chǎn)化數(shù)字源表SMU,為進(jìn)一步打通測試融合壁壘,打造閉環(huán)解決方案,通過對半導(dǎo)體高面議2025-02-27
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